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邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
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閱讀：147 發(fā)布時(shí)間：2020/07/31
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所*的。
1 、非接觸式測量：避免物件受損。
2 、三維表面測量：表面高度測量范圍為12nm - 120μm。
3 、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
4 、納米級(jí)分辨率：垂直分辨率可以達(dá)0.1nm。
5、高速數(shù)字信號(hào)處理器：實(shí)現(xiàn)測量僅需幾秒鐘。
6 、掃描儀：閉環(huán)控制系統(tǒng)。
7、工作臺(tái)：氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。
8 、測量軟件：基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界面，強(qiáng)大而快速的運(yùn)算
FR-Basic UV/VIS | 200nm - 850nm | 1nm - 80μm |
FR-Basic VIS/NIR | 350nm – 1000nm | 12nm - 120μm |
FR-Basic RED/NIR | 700nm – 950nm | 200nm - 250μm |
FR-Basic UV/NIR-HR | 200nm - 1100nm | 1nm - 120μm |
FR-Basic UV/NIR-EXT | 200nm - 1000nm | 3nm - 80μm |
FR-Basic NIR | 900nm - 1700nm | 100nm - 200μm |
FR-Basic D VIS/NIR FR-Basic D UV/NIR | 350nm – 1700nm 200nm – 1700nm | 12nm – 300μm 1nm – 300μm |
